| 年度 | 2019 |
|---|---|
| 全部作者 | Jen-Ching Huang, Yaozeng Hu, Yi-Chia Liao and Hui-Shan Chou |
| 論文名稱 | Effects of probe downforce and bias voltage on electrochemical atomic force microscopy nanomachining of copper materials |
| 期刊名稱 | Journal of Physics: Conference Series |
| 卷數 | 1176 |
| 期數 | 0 |
| 論文類型 | EI |
| 發表日期 | 2019-04-01 |